电子电器产品在使用、运输及贮存历程中，常面临高温或低温情况。崎岖温情况试验通过模拟这类极端条件，检验产品的情况耐受能力，其中国家标准 GB/T 2423.1-2008（低温试验 / 试验 A）与 GB/T 2423.2-2008（高温试验 / 试验 B），划清楚确了具体测试要求。

一、试验目的

两项试验焦点目的是确定产品在低温或高温情况中，能否维持正常使用、运输及贮存能力，重点评估产品在稳定温度条件下的性能体现。

二、试验工具

非散热样品：测试时自身不发热或发热量极小的产品（如大都元件、欠亨电设备）。

散热样品：测试时自身会爆发热量的产品（如通电运行的设备），判定标准为：样品外貌高热点温度较周围空气温度横跨 5K 及以上。

三、试验要领

凭据样品类型与通电要求，试验分为以下类别：

试验 Ab/Bb（非散热样品适用）：温度呈渐变趋势（速率不凌驾 1K / 分钟），通常接纳高气流速度循环（便于温度快速稳定）。样品一般处于非事情状态测试，待温度稳定后，可凭据需求通电检测。

试验 Ad/Bd（散热样品适用）：温度呈渐变趋势，接纳低气流速度循环（模拟实际使用情况），样品需在温度稳定后再通电运行。

试验 Ae/Be（散热样品且需全程通电适用）：温度呈渐变趋势，接纳低气流速度循环。样品放入试验箱后即通电，随后启动温度变革程序。

四、要害参数

温度：标准提供多组可选温度点

低温（GB/T 2423.1-2008）：-65℃、-55℃、-50℃、-40℃、-33℃、-25℃、-20℃、-10℃、-5℃、+5℃；

高温（GB/T 2423.2-2008）：笼罩 + 30℃至 + 1000℃，包括 + 40℃、+55℃、+70℃、+85℃、+100℃、+125℃、+155℃等常用节点。

连续时间：标准给出建议时长，例如低温试验常用 2h、16h、72h、96h，高温试验常用 2h、16h、72h、96h、168h 等。具体温度与时长需结合产品规范或应用情况确定。

五、重要注意事项

包装要求：稳态试验时，通常需去除包装测试（除非产品规范要求带包装，或发热元件与包装不可拆分）。

温度监控：需精确丈量试验箱事情空间的空气温度，传感器布设位置应制止受样品散热影响。

恢复流程：试验结束后，样品需在试验箱内或标准情况中静置恢复足够时间（至少 1h），待其温度稳定后，方可开展检测。

气流速度：针对散热样品，低气流速度是焦点要求，标准中明确了确认试验箱气流速度是否达标的要领。

GB/T 2423.1-2008（低温）与 GB/T 2423.2-2008（高温）是评估电工电子产品耐温性能的基础性标准。明确产品属于散热型照旧非散热型，以及测试时是否需全程通电，是正确选择试验要领（Ab/Ad/Ae 或 Bb/Bd/Be）的焦点前提。试验的温度节点与连续时间，需结合产品实际应用场景确定，严格遵循标准开展测试，可有效验证产品在极端温度情况下的可靠性。